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什么是失效分析?失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據失效模式和現象,通過(guò)分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實(shí)際意義。其方法分為有損分析,無(wú)損分析,物理分析,化學(xué)分析等?!?/p>
為什么要進(jìn)行失效分析?失效分析檢測目的:
1、明確潛在失效機理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節,為改進(jìn)產(chǎn)品設計,選材等提供依據。
2、通過(guò)失效機理分析還可以預測可靠性,起到技術(shù)反饋作用。
3、在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開(kāi)發(fā)、產(chǎn)品改進(jìn)、產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實(shí)際意義。
廣電計量失效分析檢測能能力
廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部是國內的半導體質(zhì)量評價(jià)與可靠性提升方案技術(shù)服務(wù)提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設備,形成以博士、專(zhuān)家為核心的人才隊伍,打造8個(gè)專(zhuān)項實(shí)驗室及1個(gè)功能安全認證中心,為裝備制造、汽車(chē)、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠(chǎng)等領(lǐng)域企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質(zhì)量評價(jià)、產(chǎn)品認證、壽命評估等服務(wù),幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。
專(zhuān)項實(shí)驗室及認證中心 | 重點(diǎn)能力 |
AEC-Q車(chē)規元器件 | AEC-Q100/101/102/103/104/200全項目認證 |
IGBT及第三代 | 功率器件逆向工程與案例分析 |
晶圓級工藝及材料 | 4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析 |
集成電路測試 | 集成電路工程化測試開(kāi)發(fā) |
集成電路篩選 | 集成電路CP/FT/量產(chǎn)測試開(kāi)發(fā)和導入 |
封裝組裝及DPA實(shí)驗室 | 電子元器件破壞性物理分析 |
電子電氣檢測與驗證實(shí)驗室 | 電子電氣功能、性能測試 |
服役評估實(shí)驗室 | 器件、零部件壽命評估 |
功能安全認證中心 | ISO26262功能安全ASFP培訓 |
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