技術(shù)干貨| DDR SDRAM器件電參數測試程序開(kāi)發(fā)研究

        DDR器件，即雙倍數據速率同步動(dòng)態(tài)隨機存取存儲器，是現代電子設備中不能缺少的關(guān)鍵組件。DDR器件以其高速度、大容量和低功耗的特性，在計算機、服務(wù)器、通信設備和消費電子等領(lǐng)域得到了廣泛應用。隨著(zhù)科技的快速發(fā)展，DDR器件不斷更新?lián)Q代，性能要求也在不斷提高，其電參數測試成為了確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能穩定的關(guān)鍵環(huán)節。

電性能參數簡(jiǎn)介

        電性能參數作為DDR器件在電路中行為特性的核心描述，反映了器件在不同工作狀態(tài)下的綜合表現。 DDR器件的電性能參數主要包括各狀態(tài)工作電流、時(shí)鐘頻率、數據傳輸速率以及延遲時(shí)間等關(guān)鍵要素。這些參數對DDR器件的性能表現具有決定性作用。具體而言，工作電流的大小直接關(guān)系到DDR器件的應用環(huán)境及功耗水平；時(shí)鐘頻率和數據傳輸速率則共同決定了DDR器件的數據處理能力；而延遲時(shí)間則是影響系統響應速度和整體性能不可忽視的因素。

        值得注意的是，各代DDR器件在電性能參數和工作條件方面存在顯著(zhù)差異。為了深入了解這些差異，我們可以參考相關(guān)的器件手冊。例如，下圖展示了某DDR器件規格書(shū)的扉頁(yè)。從規格書(shū)中可以獲取詳細的電性能參數和工作條件信息。這些信息對于正確選擇和應用DDR器件至關(guān)重要。

圖1

主要測試設備

        V93000-CTH

        設備特點(diǎn)：

        1. V93000-CTH是一臺先進(jìn)的超大規模集成電路自動(dòng)化測試系統，專(zhuān)為數字邏輯芯片、混合信號芯片、片上系統SoC芯片等產(chǎn)品的測試而設計，測試范圍廣泛；

        2. 采用先進(jìn)的Smartest軟件平臺，為用戶(hù)提供強大的編程和測試功能，使得測試程序的開(kāi)發(fā)更為快速和高效；

        3. 平臺在數字測試通道數方面，V93000-CTH具有出色的可擴展性，可以從128通道擴展至2048通道（以128通道為最小擴展單位）；

        4. 系統支持多種測試速度，其搭配的PS 9G板卡最高可以提供9 Gbps的測試速率。此外，該設備還支持多種測試速度的數字通道板卡混插，從而滿(mǎn)足不同的測試需求；

        5. 高效的測試效率：V93000-CTH具有出色的測試速度，與傳統的測試設備相比，它能夠更快地完成測試任務(wù)，從而提高測試效率。

測試案例

        在進(jìn)行DDR測試開(kāi)發(fā)之前，器件的各項參數指標是我們必須首要關(guān)注的要點(diǎn)。為確保測試的準確性和可靠性，我們必須選擇適當的測試平臺，并設計符合要求的測試夾具和測試板卡。這些工具的選擇對測試結果的精確性和穩定性具有直接影響。此外，DDR的時(shí)序配置亦不可忽視，它涉及到器件初始化、激活、預充電以及內存讀寫(xiě)等操作的時(shí)序控制，對于保障內存的穩定性和性能具有決定性作用。

        在DDR的各項電參數中，關(guān)鍵的DC參數包含了IDD0、IDD1（Operating one bank Current），IDD2(Precharge Current)，IDD3（Active Current），IDD4(Operating burst write/read current )，IDD5、IDD6（Refresh Current），IDD7(Operating bank interleave read current)和IDD8（Reset Current）等，其中最小的工作電流通常小于十毫安，最大的工作電流則可能達到幾百毫安級。而關(guān)鍵的AC參數有tCK（System Clock），tAC（DQ output access time to/from CK/CK#），tDQSCK（DQS/DQS# rising to/from rising CK/CK#）等，其中系統時(shí)鐘通常為納秒級參數，關(guān)鍵參數如tDQSCK則為皮秒級延時(shí)參數。

        下組圖為廣電計量測試某型號DDR器件時(shí)的示意圖，通過(guò)定制合適的測試板以及測試夾具，配合適當配置的ATE平臺，對相應的DDR樣品進(jìn)行測試。

 DDR機臺測試示意圖

       下組圖左側為廣電計量對某DDR器件關(guān)鍵參數測試數據，測試采用V93000-CTH完成；下組圖右側為該公司同型號的規格書(shū)當中電特性參數部分列表。

實(shí)機測試數據

規格書(shū)中電參數判限

測試能力

        廣電計量引進(jìn)國內外的測試技術(shù)和設備，搭建了DDR器件相關(guān)關(guān)鍵參數的測試開(kāi)發(fā)能力。此外，廣電計量也致力于發(fā)展數字邏輯芯片、混合信號芯片以及片上系統SoC芯片等多元化器件的測試能力，為我國芯片產(chǎn)業(yè)的多樣化發(fā)展提供了強有力的驗證保障，為芯片產(chǎn)品的順利上市保駕護航。

廣電計量半導體服務(wù)優(yōu)勢