15360494010
簡(jiǎn)要描述:超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試是確定或評估?規模集成電路的功能和電性能的過(guò)程,是驗證設計、監控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
---|---|---|---|
服務(wù)區域 | 全國 | 服務(wù)周期 | 常規-5個(gè)工作日 |
服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS | 服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)范圍
超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試服務(wù)范圍:處理器、存儲器、AD/DA、接?芯片等?規模集成電路、適用于各種封裝(DIP、SOP、BGA、PGA、QFP、PLCC、LCC等)。
檢測標準
l GJB597A-1996半導體集成電路總規范
l GJB2438A-2002混合集成電路通?規范
l GJB548B-2005微電子器件試驗?法和程序
l GJB7243-2011J用電子元器件篩選技術(shù)要求
l AEC-Q100 STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS
l MIT-STD-883E TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS
l JESD22-A108-A Temperature, Bias, and Operating Life
檢測項目
試驗設備 | 設備能? |
超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試 | 系統分區:16 區; I/O通道數:128 路; 信號頻率:100MHz; 向量編程深度:32M; 試驗溫度:-10℃?+125℃(±2℃)。 |
超大規模集成電路測試 | 能進(jìn)?動(dòng)態(tài)功能測試、直流參數測試、交流參數測試;能進(jìn)?常溫測試、低溫測試、?溫測試,溫度范圍:-55℃?+150℃ (±2℃);I/O通道數:512路;信號頻率:≥200MHz;可升級; 向量編程深度:64M。 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
在半導體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下,行業(yè)引入了?量新材料、新?藝和新的器件結構,導致集成電路更高的缺陷密度,動(dòng)態(tài)老煉與測試是保證及提高其可靠性和質(zhì)量?致性的關(guān)鍵?法。
我們的優(yōu)勢
l 通過(guò)對大規模集成電路施加特定測試向量(有效測試向量),激勵內在缺陷和錯誤形成響應,并通過(guò)電應力和熱應力的加速,在短時(shí)間內讓不良品表現出失效現象,并通過(guò)測試?段予以剔除,以達到提高?規模集成電路使?可靠性的?的。
l 超?規模集成電路測試是確定或評估?規模集成電路的功能和電性能的過(guò)程,是驗證設計、監控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。特別在集成電路?產(chǎn)后期和使?前期不良率驗證過(guò)程中,采?適當的測試向量和全?動(dòng)化的測試設備,可全?快速地識別不良產(chǎn)品,提?產(chǎn)品的交付可靠性。
產(chǎn)品咨詢(xún)
電話(huà)
微信掃一掃