電子元器件篩選,元件失效分析測試

服務(wù)范圍

電子元器件篩選,元件失效分析測試服務(wù)范圍如下：

半導體集成電路：時(shí)基電路、總線(xiàn)收發(fā)器、緩沖器、驅動(dòng)器、電平轉換器、 門(mén)器件、觸發(fā)器、LVDS線(xiàn)收發(fā)器、運算放大器、電壓調整器、電壓?較器、 電源類(lèi)芯片（穩壓器、開(kāi)關(guān)電源轉換器、電源監控器、電源管理等）、數模轉換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等；

半導體分立器件：二極管、三極管、場(chǎng)效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等；

電阻器；電容器；磁珠；電感器；變壓器；晶體振蕩器；晶體諧振器；繼電器；電連接器；開(kāi)關(guān)及?板元件；濾波器；電源模塊等。

檢測標準

●GJB7243-2011J用電子元器件篩選技術(shù)要求

●GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法

●GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法

●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序

●QJ10003—2008進(jìn)口元器件篩選指南

●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法

●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序

檢測項目

●外觀(guān)檢查；

●電性能測試：常溫測試/高溫測試/低溫測試；

●環(huán)境/機械應力檢測：振動(dòng)、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封（粗檢漏、細檢漏 ）、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）；

●高溫動(dòng)態(tài)老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉；

●芯片超聲檢測；

●X射線(xiàn)照相。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

電子元器件是裝備的關(guān)鍵原材料，元器件篩選是提升電子裝備可靠性的關(guān)鍵手段，嚴格執行型號的三級篩選管理規定，從源頭上保證裝備的可靠性和質(zhì)量一致性是電子裝備批產(chǎn)的關(guān)鍵。

我們的優(yōu)勢

廣電計量可滿(mǎn)足各等級電子元器件篩選,元件失效分析測試需求，提供電子元器件測試、評估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。