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簡(jiǎn)要描述:廣電計量軌道交通電子元器件失效分析是指借助各種測試分析技術(shù)和方法確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認失效根因,提出設計和工藝改進(jìn)建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性的有效手段。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區域 | 全國 |
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服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS | 服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)周期 | 常規5-7個(gè)工作日 |
服務(wù)范圍
廣電計量軌道交通電子元器件失效分析服務(wù)范圍:IGBT、IC集成電路、微機電器件
檢測標準
廣電計量軌道交通電子元器件失效分析檢測標準:GJB548微電子器件試驗方法和程序
檢測項目
(1)常見(jiàn)檢測項?:3DX 射線(xiàn)檢查、聲學(xué)掃描檢查、開(kāi)封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試
(2)常見(jiàn)失效模式分析:靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數漂移
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
隨著(zhù)動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)電控性能的提升,其使用的電子元器件占比越來(lái)越高。一方面,為保證動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)的運行可靠性,需要對所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底,以熟悉產(chǎn)品性能及預期壽命。另一方面,列車(chē)運行過(guò)程中一旦出現電子元器件失效,將可造成災難性的損失;而為滿(mǎn)足電子元器件高功率、高負載、高性能的要求,列車(chē)上多使用進(jìn)口集成電路芯片,因檢測手段匱乏、分析方法空白,其失效問(wèn)題常常受制于國外供應商。
我們的優(yōu)勢
廣電計量通過(guò)與華為、海思等國內集成電路芯片廠(chǎng)的深度合作,不斷提高自身芯片類(lèi)檢測硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力,同時(shí)可以將問(wèn)題鎖定在具體芯片層或者um范圍內。
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